АО "НИИЭТ" представляет второй выпуск научного журнала "СТЭК-В" (Системы, Технологии, Электроника, Комплексирование), посвященного актуальным вопросам развития и применения современных электронных технологий. Новый выпуск объединяет работы ведущих специалистов в области микроэлектроники, проектного управления и разработки высокотехнологичных решений.
Ключевые темы второго номера:
- Современные подходы к управлению предприятиями радиоэлектронной отрасли (РЭО), включая замкнутые контуры управления и системы управления рисками.
- Исследования и разработки в области полупроводниковых технологий, включая лазерные комплексы коррекции топологии и методы травления для улучшения бондинга пластин.
- Создание устройств с низким энергопотреблением для контроля внешних воздействий и перспективы применения кремния в силовых приборах.
- Технологии защиты микрообъемов кристаллов, микросборка пластин и анализ воздействия радиации на электронную компонентную базу.
- Инновационные подходы к интеграционным тестам памяти и разработке информационных систем для управления в ЖКХ.
В каждом материале представлено глубокое техническое содержание и аналитический подход, подкрепленные опытом авторов. Журнал "СТЭК-В" станет ценным источником информации для специалистов в области радиоэлектронной промышленности, научных работников и инженеров.
Следите за нашими публикациями, чтобы быть в курсе последних научных достижений!
Источник: Жрнал